硅片质量检测
产品介绍
硅片，是制作集成电路的重要材料，通过对硅片进行光刻、离子注入等手段，可以制成各种半导体器件。 用硅片制成的芯片有着惊人的运算能力。
硅片检测范围
单晶硅片、太阳能硅片、多晶硅片、半导体硅片等。
检测内容
硅片检测项目
质量检测、厚度检测、隐裂检测、工业问题诊断、表面有机物检测、电阻率检测、压阻系数、表面粗糙度检测、反射率检测、翘曲度检测、微量元素检测、碳氧含量检测、结晶度检测等。
检测标准
产品名称 检测项目 检测标准
硅片 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法 GB/T 6617-2009
硅片 硅片切口尺寸测试方法 GB/T 26067-2010
硅片 硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法 GB/T 29505-2013
硅片 太阳能电池用多晶硅片 GB/T 29055-2019
百检网平台服务质量承诺
行为公正： 自觉遵守公正性声明。
方法科学： 遵循科学求实原则，严格按照规定的方法从事校准工作。
结果： 证书规范严谨、数据可靠。
工作： 根据实际情况和客户需求，不断改进业务流程，确保校准工作在承诺的时间内完成。
收费合理： 校准费用不高于国家及省、市物价部门批准的收费标准，不高于同行平均水平。
客户满意： 主动了解客户需要， 提供服务， 及时受理和处置客户的投诉，提供快捷、方便的后续服务。
硅片检测范围
单晶硅片、太阳能硅片、多晶硅片、半导体硅片等。
检测内容
硅片检测项目
质量检测、厚度检测、隐裂检测、工业问题诊断、表面有机物检测、电阻率检测、压阻系数、表面粗糙度检测、反射率检测、翘曲度检测、微量元素检测、碳氧含量检测、结晶度检测等。
检测标准
产品名称 检测项目 检测标准
硅片 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法 GB/T 6617-2009
硅片 硅片切口尺寸测试方法 GB/T 26067-2010
硅片 硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法 GB/T 29505-2013
硅片 太阳能电池用多晶硅片 GB/T 29055-2019
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行为公正： 自觉遵守公正性声明。
方法科学： 遵循科学求实原则，严格按照规定的方法从事校准工作。
结果： 证书规范严谨、数据可靠。
工作： 根据实际情况和客户需求，不断改进业务流程，确保校准工作在承诺的时间内完成。
收费合理： 校准费用不高于国家及省、市物价部门批准的收费标准，不高于同行平均水平。
客户满意： 主动了解客户需要， 提供服务， 及时受理和处置客户的投诉，提供快捷、方便的后续服务。
